本次研讨会专为以下工程师度身定制:
　　--专为通讯，消费电子和IC行业的测试而创建的ATE测试平台；
　　--渴望加速产品开发周期并大幅提高效率；
　　--需要更进一步了解NI模块化仪器产品及应用详细内容 

　　您将通过本场研讨会:
　　--了解在创建基于PXI的ATE测试系统时必需的技术要点，尤其是针对通讯，消费电子和IC行业的测试；
　　--学习上述行业设计和测试的难点以及如何克服这些难点；
　　--通过实际的案例学习模块化仪器的应用
　　
　　涉及的产品包括：
　　--2输入/2输出 24位动态信号采集与生成设备
　　--200 MHz 信号发生器
　　--200 MHz 高速数字化仪
　　--数字万用表和开关模块
　　--射频测量和发生设备
　　--最新的7位半数字万用表-NI PXI-4071
　　--最新的可变分辨率数字化仪-NI PXI-5922
　　
　　研讨会安排：
　　在三个小时的研讨会中，NI主讲工程师将现场穿插不同的应用演示，帮助您进一步理解基于PXI的模块化仪器的优势所在。
　　
　　为了帮助您从本次研讨会中取得最大的收获，我们建议您先期参加如下NI研讨会或预先具备相应知识为宜：
　　--基于计算机技术的测量与自动化系统
　　--了解示波器、万用表、信号源等的基本运作
　　
　　时间与地点：
　　10/11 宁波 14：00-17：00 宁波大酒店7楼会见厅（宁波市中山东路145号）
　　10/21 杭州 14：00-17：00 浙江国际大酒店5楼影视厅（杭州下城区体育场路221号）
　　
　　更多有关模块化的信息，请访问www.ni.com/china/mi。或与NI上海分公司联系：上海市曲阳路800号商务大厦6楼（200437），电话:(021)65557838，传真:(021）65556244，Email：china.info@ni.com。免费咨询电话：800 820 3622